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ENJ2005-B半導體分立器件測試系統(tǒng)，支持電流階梯升級至1250A。采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。被測器件引腳接觸自動判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試工裝，自動補償由于系統(tǒng)內部及測試電 纜長度引起的壓降，保證測試結果準確可靠。

ENJ2010 IGBT便攜式半導體靜態(tài)參數(shù)測試儀，是一種全新的功率半導體器件參數(shù)測試儀器，可用于額定電流在2-100A的IGBT和MOS管主要靜態(tài)參數(shù)的測試。儀器與配套電腦連接使用，通過友好人機界面操作，便于各 測試參數(shù)的組合、數(shù)據(jù)結果以表格形式呈現(xiàn)，具有使用便捷、測試精度高等優(yōu)點，適合于各測試器件使用現(xiàn)場及產(chǎn)線維護場合使用。

STS8203S半導體分立器件測試系統(tǒng)北京華峰測控技術股份有限公司在全新一代測試系統(tǒng)STS8200測試平臺上開發(fā)的系列測試產(chǎn)品之一。本系統(tǒng)可用于各類二極管、三極管、絕緣柵型場效應管、結型場效應管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽二極管及多陣列器件等各類分立器件的功能和交參數(shù)測試。