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是德2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)，開(kāi)發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley 高功率參數(shù)化波形記錄器系列的配置支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。

Keysight是德科技B1500A半導(dǎo)體器件分析儀是精密電流-電壓分析儀系列的一款一體化分析儀，支持 IV、CV、脈沖/動(dòng)態(tài) IV 等功能，專為從基礎(chǔ)到應(yīng)用的表征而設(shè)計(jì)。它提供廣泛的測(cè)量功能，涵蓋器件、材料、半導(dǎo)體、有源/無(wú)源元件或幾乎任何其他類型的電子設(shè)備的電氣特性和評(píng)估，具有測(cè)量可靠性和效率。

QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī) 實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，滿足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。 本產(chǎn)品為IGBT、SiC等功率半導(dǎo)體器件提供全套功率測(cè)試解決方案，可高效實(shí)現(xiàn)從晶圓級(jí)到最終產(chǎn)品的ISO、DC、AC等全套測(cè)試，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，并配置豐富的測(cè)試接口和功能模塊選擇，滿足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。

ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)，系統(tǒng)IV曲線自動(dòng)生成，也可根據(jù)實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。

Flex10K-L國(guó)產(chǎn)高通道LCD Driver測(cè)試機(jī)主要應(yīng)用于各類顯示驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試，整機(jī)包含MF機(jī)柜和TH機(jī)頭，TH最高支持31槽位，支持DFB、LPB、LPP、RVS、CBIT、HSIF等資源板卡。該系統(tǒng)采用優(yōu)良的設(shè)計(jì)架構(gòu)，具有良好的測(cè)試性能和量產(chǎn)測(cè)試能力，可以有效地降低高分辨率屏顯驅(qū)動(dòng)芯片的測(cè)試成本。

ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)，支持1024數(shù)字通道配置。該系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)采用Direct Docking連接方式，可以兼容J Type針卡，降低客戶轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴(kuò)展性，可搭載無(wú)線綜測(cè)儀、RF測(cè)試模塊及各類高性價(jià)比解決方案。

ST2500E高密度數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導(dǎo)體晶圓、器件測(cè)試和模塊系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)采用脈沖測(cè)試法，脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。被測(cè)器件引腳接觸自動(dòng)判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試工裝，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電 纜長(zhǎng)度引起的壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。