NSG4070D-A230M-50 射頻傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)

AMETEK CTS 非常高興地向廣大客戶發(fā)布 Teseq 品牌在 EMC抗擾度測試領(lǐng)域的全新產(chǎn)品——NSG 4070D 系列射頻傳導(dǎo)抗擾度測試系統(tǒng)。

作為一款先進(jìn)的一體化機(jī)解決方案，NSG 4070D 系列包括以下非常突出的特點(diǎn)：

集成了信號發(fā)生器

可以產(chǎn)生 4 kHz - 1 GHz 的正弦信號，輸出電平范圍為 -60 dBm 至 +10 dBm。

調(diào)制能力

支持抗擾度標(biāo)準(zhǔn)常用的幅度調(diào)制（AM）和脈沖調(diào)制（PM），可靈活根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置調(diào)制參數(shù)。

信號源的輸出電平范圍更寬

提供 - 60dbm 至 + 10dbm 范圍內(nèi)的輸出功率，帶來更大的靈活性，適應(yīng)更加多樣化的測試條件。

內(nèi)置了射頻功放模塊

提供了覆蓋不同頻率范圍和不同線性功率的多種功放模塊，滿足不同應(yīng)用的需要。

支持外置功率放大器

還可集成外部的獨(dú)立的射頻功放以便構(gòu)成系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)更寬的頻率范圍和/或更高的輸出功率，從而滿足擴(kuò)展的測試要求。

靈活的外置設(shè)備切換功能

支持通過射頻開關(guān)例如 SW 4070 開關(guān)單元，方便切換外部設(shè)備和電流監(jiān)測探頭例如 MD 4070 等設(shè)備。

內(nèi)置了多達(dá) 5 路的功率測量單元

3 路外部測量、2 路內(nèi)部測量，可以輕松實(shí)現(xiàn)對內(nèi)部的功放模塊或者外部功放的前向和反向功率、電流等參數(shù)的測量。

EUT 監(jiān)測能力

標(biāo)配對被測物 EUT 的監(jiān)測功能，可以通過數(shù)字 TTL 輸入端口、24 V 數(shù)字輸入端口和光纖輸入端口來完成。此外，它可以監(jiān)測高達(dá) 24 V 的模擬電壓，精度為 6 mV，可以確保對設(shè)備性能的全面評估。

廣泛的應(yīng)用范圍

可覆蓋廣泛的不同行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，適用于汽車、醫(yī)療、軍標(biāo)、工業(yè)設(shè)備和消費(fèi)電子產(chǎn)品。

與以前的 NSG 4070 系列相比，我們對新的 NSG 4070D 系列進(jìn)行了顯著的改進(jìn)和提升。

AMETEK 全新設(shè)計(jì)

對主要部件進(jìn)行了全面的重新設(shè)計(jì)，提高了整體產(chǎn)品的性能和可靠性。

重新定義了內(nèi)置的功率模塊的可選型號

提供四種功率模塊，滿足不同的測試需求。

3U 高度的緊湊型設(shè)計(jì)

所有型號均只有 3U 的機(jī)箱高度，不但適合實(shí)驗(yàn)室使用，還可便攜到外場測試。

當(dāng)代風(fēng)格的操作界面

全新的用戶界面，設(shè)計(jì)更精簡、直觀，操作更容易，帶來用戶體驗(yàn)的提升。

支持低頻磁場抗擾度測試

其中兩個(gè)型號可支持 IEC 61000-4-39 的低頻磁場抗擾度測試。

可直接調(diào)用的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的測試

已經(jīng)編好相關(guān)的測試程序，直接調(diào)用即可，涵蓋工業(yè)、汽車、和航空電子測試的主要應(yīng)用。

插入損耗測量功能

為測量無源器件的插入損耗提供了專用的測量功能。