LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態(tài)測試系統(tǒng)

LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態(tài)測試系統(tǒng)

是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅動設計、PCB設計等需要半導體動態(tài)參數(shù)的場合。特別對于應用第三代半導體的需要，有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數(shù)。

　　雙脈沖測試法可以測試IGBT模塊和驅動的性能，獲取IGBT穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)過程中的主要參數(shù)，用以評估IGBT模塊和驅動的性能，并進行電路參數(shù)的優(yōu)化。

具體包括測試IGBT的實際工況、開關損耗、關斷電壓尖峰、開關暫態(tài)震蕩情況、二極管反向恢復電流、雜散電感影響、吸收電路影響、短路保護功能等，可以通過測試進行優(yōu)化柵極電阻RGON和RGOFF參數(shù)、吸收電路參數(shù)、開關頻率設置等，并可以進行IGBT模塊的并聯(lián)和串聯(lián)實驗。

　　硬件優(yōu)勢:

　　-采用12 bit示波器：正確反映波形的細節(jié)，并準確計算出參數(shù)

　　-采用光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC\GAN的測試難點

　　-高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求

　　-可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭

　　-電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展

　　-器件驅動設計支持SIC/GAN器件

　　-系統(tǒng)帶寬：>400MHz

　　-系統(tǒng)可以定制

軟件特點：

測量參數(shù)齊全：開關參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復參數(shù)

支持器件類型多：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…

測試方式：單脈沖、多脈沖

離線數(shù)據(jù)分析：既可以在線測量，也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析

測試UI符合工程師的使用習慣

測量項目及器件支持擴展